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La plateforme de micro et nano-caractérisation créée dans l’Espace Clément Ader à Toulouse Montaudran vient de commander un ARM-200F Cold FEG avec correcteur d'aberration sphérique, EDS Centurio et GIF.

Les MEB FEG 7800F Prime(1er en Europe) et 7100F TTLS LV ont également été commandé à cette même occasion.

L'objectif de cette plateforme est de disposer d’un ensemble d’outils de caractérisation au meilleur niveau européen.
Ces appareils seront accessible à l'ensemble des chercheurs de Midi-Pyrénées travaillant dans le domaine des Matériaux et plus largement dans tous les secteurs de la recherche ayant des besoins importants en caractérisation multi-échelle.

Les appareils installés permettront à ces acteurs de répondre à des besoins de caractérisation de plus en plus poussés en leur garantissant l’accessibilité des meilleures machines dans des délais très cours.

Le bâtiment destiné à l’installation des appareils devrait être livré en octobre 2013.

L'ARM-200F va leur permettre d'atteindre une résolution atomique aussi bien
 - en imagerie grâce au correcteur d'aberration Cs SEM

 - qu'en analyse grâce à l'EDS Centurio et au GIF Quantum

Le 7800F Prime est le premier MEB FEG ayant une résolution sub-nanométrique sur toute sa gamme de tension (de 10V à 30kV)

Enfin le 7100F TTLS LV est le seul MEB à combiner haute résolution en imagerie et en analyse et permettra de faire des analyse EDS et EBSD sur tous types d'échantillons.