24
EMC 2016 Lyon - 16-ty europejski kongres mikroskopii > JEOL

 

Navštivte nás  na 16. Evropském  kongresu elektronové mikroskopie (28. srpna – 2. září) v Lyonu v Centru des Congress na JEOL stánku č. 37.

Budete zde moci objevit nejen nové přístroje a zařízení, ale také  diskutovat s našimi specialisty v přátelské atmosféře.

PŘÍSTROJE, KTERÉ BUDETE MOCI OBJEVIT:

JEM-1400Plus F2 JSM-7800F Prime
Tento kompaktní, velmi jednoduše ovladatelný TEM je vhodný nejen pro biologické a polymerní materiály, ale i pro aplikace v materiálových vědách a bude vybaven novými kamerami

 

Jediný vysoko  výkonný analytický 200 kV S/TEM mikroskop  ve své třídě, který nabízí “Cold FEG" emisi děla a duální  Silicon Drift Detektory.  F2  je  200kV analytický TEM,který poskytuje nejen zobrazení s vysokým rozlišením, ale  navíc je i extrémně stabilní a velmi jednoduchý na ovládání. F2 je víceúčelový klíčový systém s progresivními rysy, které nenajdete u žádného jiného  aberačně nekorigovaného S/TEM.

 

FE SEM, který je leader především v průmyslu pro jakékoli typy vzorků a typy analýz.

JSM-7800F PRIME představuje důležitý skok vpřed ve Field Emission SEM technologii,

s nesrovnatelným rozlišením a stabilitou pro zobrazení a analýzy.  Nejvyšší typ JEOL

FE- SEM.

JSM-7200F JSM-IT100
JSM-7200F je velmi universální, jednoduše použitelný  field emission SEM, který nabízí novou úroveň rozšířeného  výkonu bez navyšování nákladů  laboratoře.  Tento SEM s vysokým rozlišením je ideální pro zobrazení a analýzy nanostruktur a pro určování chemického složení pomocí X-ray spektroskopie.
IT100 je jednoduše použitelný, univerzální  a vědecký SEM s kompaktním ergonomickým designem. Nyní s rozšířenými možnostmi EDS analýz.

  

Lunch semináře:

JEOL bude organizovat lunch semináře, kde bude prezentovat nejnovější vývoj a zásadní vědecké průlomy. Semináře se budou konat v úterý 30. a ve čtvrtek 1. září  v  “Salon Tête d’or” od 12.45 do 13.45 hodin.

Počet účastníků je omezen. Je potřeba přijít na stánek (#37) a zaregistrovat se zde.

 

Luch semináře:

“Introduction of Cryo Transmission Microscope"    <by Dr. Naoki HOSOGI>

"Latest information of JEOL-ARM microscopes for material science Vol.1" <by Dr. Eiji OKUNISHI>

"Breakthrough in performance & Maximum usability! Introduction of the newest all-purpose SEM" < by Franck CHARLES>

 

         Těšíme se na Vás!