04

V roce 1966 JEOL nabídl svůj první komerčně dostupný SEM – JSM-1. Od té doby JEOL nainstaloval na celém světě více jak 22.000 rastrovacích elektronových mikroskopů. Za uplynulých 50 let JEOL kontinuálně zlepšuje nejen rozlišení, ale také zobrazení a analytické schopnosti svých SEMů. Do JEOL SEMů bylo implementováno několik inovací pro zlepšení jejich schopností: Schottky FEG, In-lens technologie, nízké vakuum, zpomalení paprsku (beam deceleration)….
JEOL disponuje ucelenou nabídkou SEMů pro všechny aplikace -  od  JEOL extrémního rozlišení  u  Field Emission SEMů se 7Å rozlišením a 1.000.000x přímým zvětšením až po naše stolní SEMy. Prohlédněte si nejnovější SEM technologii, která je  založena na více jak 50 leté JEOL mikroskopické odbornosti. Dovolujeme si Vás pozvat, aby jste s námi oslavili tento významný letošní milník. 

                                                                                                                                 

                                                                  1966 - JSM-1                                                                                  2016 - JSM-7800F PRIME

                                                  Rozlišení: 25nm, Přímé zvětšení: 30.000x                                                    Rozlišení: 0,7 nm, Přímé zvětšení: 1.000.000x